Grenzflächendiagnose
Oberflächen- und Mikrostrukturanalyse

Schwerpunkte sind:
- Glasfehlerdiagnose
- Analyse von pharmazeutisch relevanten Oberflächen
- Charakterisierung von Dünnschichtsystemen
- Untersuchung der Mikrostruktur und Zusammensetzung von Glas und Glaskeramiken

SEM/EDX-Analyse eines fehlerhaften Mehr-Schichtsystems. Das Teilchen, das den Defekt verursachte, wurde zur Analyse im Querschnitt präpariert und betrachtet. Seine Größe betrug nur etwa 100 nm.

ToF-SIMS-Tiefenprofilanalyse einer einzelnen Faser mit einem Durchmesser von 50 μm. Der analysierte Bereich beträgt

In-situ-AFM-Analyse (flüssige Zelle) einer adsorbierten Antikörper-Schicht. Die Schichtdicke wurde durch die partielle Entfernung der Schicht und das Messen der Stufenhöhe (4 nm) bestimmt.
Oberflächenaufbereitung und -reinigung
In den letzten Jahren hat der Bedarf an technischen Oberflächen stark zugenommen. Daher gewinnt auch die Aufbereitung und Reinigung von Oberflächen zunehmend an Bedeutung. Unsere Kompetenzen bei der Entwicklung und Evaluierung von Prozessen der Oberflächenaufbereitung bieten hier zusammen mit der Oberflächenanalyse ein effizientes Werkzeug.
Analysemethoden:
- ToF-SIMS/SIMS (Massenspektrometrie)
- SEM/EDX (Rasterelektronenmikroskopie)
- TEM/EDX (Transmissionselektronenmikroskopie) (in Kooperation)
- LiMi (Lichtmikroskopie)
- AFM (Rasterkraftmikroskopie)
- XRD, HT-XRD (Röntgenbeugung), auch bei Temperaturen von bis zu 1.200 °C
- GIXR (Streifende Röntgenbeugung/Reflektometrie) für Dünnschichten
- WLI (Weißlicht-Interferenzmikroskopie)
- XPS/ESCA (Röntgeninduzierte Photoelektronenspektroskopie) (in Kooperation)