SCHOTT RealView®
SCHOTT RealView® 1.9 leve
O SCHOTT RealView® 1.9 leve aprimora a família SCHOTT de wafers de alto índice com um peso significativamente reduzido para proporcionar conforto durante todo o dia.
CARACTERÍSTICAS
Com uma densidade reduzida de 20%, o SCHOTT RealView® 1.9 leve não compromete a qualidade da imagem e mantém o alto índice de refração, necessário para o setor de realidade aumentada.
AS VANTAGENS PARA VOCÊ
- Alto índice de refração e baixa densidade oferecidos ao mesmo tempo.
- Adequação comprovada para a fabricação de litografia nanoimpressa.
- Resina com correspondência de índice disponível.
- Sob medida para alta robustez mecânica.
- O histórico da indústria de realidade aumentada na produção em massa de wafers atende aos mais altos padrões de qualidade de forma consistente.
SCHOTT RealView® ultra
Esse novo grau de wafer ultraplano minimiza a flutuação da qualidade da imagem para guias de ondas difrativas e permite dispositivos mais finos e leves para manter a impressionante qualidade de imagem.
CARACTERÍSTICAS
Diminuir a densidade do vidro ou a espessura do wafer pode oferecer redução de peso essencial para os guias de ondas, mas tem um preço em termos de qualidade de imagem inferior. O SCHOTT RealView® ultra não só melhora a planicidade do wafer em até 60%, mas também aumenta a qualidade da imagem, permitindo que os fabricantes de dispositivos de RA minimizem a variação de imagem entre peças oculares individuais e maximizem os rendimentos da produção.
Aplicável a todo o portfólio do SCHOTT RealView®, esse novo grau ultra também pode remover até 30% do peso da balança e, combinado com o peso leve do SCHOTT RealView® 1.9 de baixa densidade, o SCHOTT RealView® ultra pode até mesmo oferecer uma redução de até 50% no peso do guia de ondas.
SUAS VANTAGENS
- O controle rígido da planicidade minimiza as deflexões do feixe de luz nos guias de ondas para permitir a mais alta qualidade de imagem.
- Tolerâncias mais altas para empilhar guias de ondas de várias camadas ajudam a aumentar o rendimento da fabricação.
- Guias de ondas mais finos e leves podem ser produzidos sem comprometer a qualidade da imagem.
- Experiência imersiva completa com o mais alto conforto de uso.
SCHOTT RealView® com revestimentos de dióxido de titânio
Esses wafers com índice de alta refração permitem guias de ondas de alto desempenho com nanoestruturas criadas por gravação iônica reativa.
CARACTERÍSTICAS
Com uma ampla variedade de índices de refração, o SCHOTT RealView® é o principal substrato para o método aditivo, com resinas com correspondência de índice e uma abordagem subtrativa com gravação direta no vidro.
Para complementar o portfólio da SCHOTT para a indústria de grades de alívio de superfície, os substratos SCHOTT RealView® também estão disponíveis com revestimentos dedicados para aplicações de gravação iônica reativa (RIE). Em combinação com substratos RealView® de índice alto, isso abre caminho para o desenvolvimento de dispositivos altamente imersivos com campos de visão grandes. Ao usar uma única camada de guia de ondas de alto desempenho, a miniaturização e a redução de peso podem ser levadas para o próximo nível.
SUAS VANTAGENS
- Controle rígido da espessura da camada de TiO2 (faixa do nanômetro).
- Alta homogeneidade na camada de TiO2 sem bolhas.
- A qualidade do "SCHOTT RealView® ultra" é a base para um excelente desempenho.
- Controle rigoroso da rugosidade.
- Forte aderência entre o revestimento e o wafer.
