干涉仪

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相似镜片的折射率均匀性可采用斐索干涉仪测量。根据波长632.8 nm的激光波前畸变原理,可在两次透射试验下测量测试体折射率的相对差值。

肖特配备了卡尔蔡司的干涉仪,型号
Direct 100
,光圈 Ø = 300 mm与 Ø = 500 mm,可测量波前误差< 10 nm以及折射率均匀性< 5 · 107。该测量法可对直径至1500mm、厚度至300mm的方块与原片进行测量,通过拼接软件可将超过干扰计光圈范围的镜片合成为一张同质图片。

光学同质性源于后期应用的要求与光学元件的尺寸,光学镜片的同质性分布可利用泽尼克分析法测量
。同时,光学均匀性基本符合测试镜片光圈折射率的最大折射率区间。同质性分布的斜度(
Gradient)可根据需求通过每厘米光圈的折光率差值计算获得。

肖特库存有大量优选精密退火的高均匀性玻璃切块。
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