Grenzflächendiagnose


Oberflächen- und Mikrostrukturanalyse

Modernstes Equipment im Bereich der Oberflächen- und Mikrostrukturanalyse und fortwährende Weiterentwicklung gewährleisten hohe Qualität. Darüber hinaus garantiert die Zertifizierung nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005-08 zuverlässige und nachvollziehbare Ergebnisse.

Schwerpunkte sind:
  • Glasfehlerdiagnose
  • Analyse von pharmazeutisch relevanten Oberflächen
  • Charakterisierung von Dünnschichtsystemen
  • Untersuchung der Mikrostruktur und Zusammensetzung von Glas und Glaskeramiken
Beispiel 1: Beschichtungen
SEM/EDX-Analyse eines fehlerhaften Mehr-Schichtsystems. Das Teilchen, das den Defekt verursachte, wurde zur Analyse im Querschnitt präpariert und betrachtet. Seine Größe betrug nur etwa 100 nm.
Beispiel 2: Fasern
ToF-SIMS-Tiefenprofilanalyse einer einzelnen Faser mit einem Durchmesser von 50 μm. Der analysierte Bereich beträgt 10 x 10 μm².
Beispiel 3: Gesundheit
In-situ-AFM-Analyse (flüssige Zelle) einer adsorbierten Antikörper-Schicht. Die Schichtdicke wurde durch die partielle Entfernung der Schicht und das Messen der Stufenhöhe (4 nm) bestimmt.


Oberflächenaufbereitung und -reinigung

In den letzten Jahren hat der Bedarf an technischen Oberflächen stark zugenommen. Daher gewinnt auch die Aufbereitung und Reinigung von Oberflächen zunehmend an Bedeutung. Unsere Kompetenzen bei der Entwicklung und Evaluierung von Prozessen der Oberflächenaufbereitung bieten hier zusammen mit der Oberflächenanalyse ein effizientes Werkzeug.

Analysemethoden:
  • ToF-SIMS/SIMS (Massenspektrometrie)
  • SEM/EDX (Rasterelektronenmikroskopie)
  • TEM/EDX (Transmissionselektronenmikroskopie) (in Kooperation)
  • LiMi (Lichtmikroskopie)
  • AFM (Rasterkraftmikroskopie)
  • XRD, HT-XRD (Röntgenbeugung), auch bei Temperaturen von bis zu 1.200 °C
  • GIXR (Streifende Röntgenbeugung/Reflektometrie) für Dünnschichten
  • WLI (Weißlicht-Interferenzmikroskopie)
  • XPS/ESCA (Röntgeninduzierte Photoelektronenspektroskopie) (in Kooperation)
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